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上海鍍層厚度檢測丨電鍍膜厚測試丨鍍層分析行業領先 -專業快速鍍層厚度檢測-聯系電話：19928181203李工安普檢測中心是專業第三方檢測機構，出具權威檢測報告（誠招同行代理；有意聯系宋總15018089520）安普檢測的服務優勢在于以更短的檢測周期和更低的服務價格，為客戶節約成本和周期，幫助客戶快速獲取準確有效數據，并為客戶提供后期技術服務支持。安普檢測作為平臺化運營品牌，與國內外多家實驗室建立了良好的合作關系，旨在為客戶、行業提供更全面、更優質的檢測咨詢服務鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。檢測方法有 1. 金相法 2. 庫侖法 3. X-ray 方法。金相法：采用金相顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um，才能保證測量結果在誤差范圍之內；厚度越大，誤差越小。庫侖法：適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。 X-ray 方法：適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。檢測標準：1. GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法 2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section 3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test) 4. GB/T4955-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 5. GB/T16921-2005 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法 6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry

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