聯系人:陳文覺(56332496)
儀器簡介:
取向成象分析系統配備在掃描電子顯微鏡上,該系統使掃描電鏡能在原有的功能即形貌觀察的基礎
上,進一步進行晶體取向、微觀結構的分析研究,大大拓寬和深化了掃描電鏡的研究領域。該系統可進
行晶體取向分布測定、取向分布函數以及極圖與反極圖的顯示和計算、物相鑒定等。
主要技術指標:
入射束為4nA時,圖象積分時間<1秒。
應用范圍:
晶體取向分布測定、取向分布函數以及極圖與反極圖的顯示和計算、物相鑒定。
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