檢測認證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：半導體特性測試系統
- 價格型號：4200-SCS
- 儀器分類：其他
- 應用領域：其他
- 所屬單位：上海大學實驗設備處
- 所在地點：上海市寶山區上大路99號
- 產 地：美國
- 產 商：TEKTRONIX INC
- 價 值：0
- 購置日期：2013-01-15
聯系人：曾志剛(66135239)
儀器簡介：
Keithley 4200
主要技術指標：
1.電壓測量范圍：1μV-200 V，電壓測量最小分辨率為1μV；
2.電流測量范圍：1 pA-1 A，電流測量最小分辨率為0.1 fA
應用范圍：
半導體特性分析測試：如I-V、C-V
