太陽能板組件測試第三方報告IEC/TS 62804-1認證

DIN IEC/TS 62804-1-2017
光伏(PV)模塊.檢測電位誘導衰減的試驗方法.第1部分:晶體硅(IEC/TS 62804-1-2015)
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)
 
IEC62804標準的雙85抗PID測試（測試條件為±1000V電壓，85攝氏度、85%相對濕度，96小時）
IEC62804標準的雙85抗PID測試（測試條件為±1500V電壓，85攝氏度、85%相對濕度，192小時）
光伏組件卓越的抗PID性能確保了組件的高質量和高可靠性，保證了光伏電站的穩定運行，特別是保障了電站在高溫潮濕等特殊氣候條件下25年生命周期內的平穩運作。
我司（安博檢測）測試項目：LID光致衰減，PID(抗電勢誘導衰減)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

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多晶太陽能光伏組件，單晶硅光伏組件，非晶硅薄膜光伏組件，晶體硅光伏組件
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安博檢測光伏產品優勢項目標準如下，歡迎聯系我們：
IEC 61215:2005 地面用晶體硅光伏組件設計鑒定和定型 
IEC 61730-1光伏系統安全鑒定-第一部分結構要求 
IEC 61730-2 光伏系統安全鑒定-第二部分測試要求 
GB 9535-1988 地面用硅太陽電池組件環境試驗方法 地面用晶體硅太陽電池組件設計鑒定和類型 
EN 61730-1：2018 光伏系統安全鑒定-第一部分結構要求 
EN 61730-1：2018 光伏系統安全鑒定-第二部分測試要求 
IEC 61701:1995 光伏組件的鹽霧腐蝕試驗

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