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射線檢測(cè)
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對(duì)應(yīng)法規(guī)：相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：否 射線檢測(cè)作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的射線檢測(cè)，在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。
利用射線(X射線、γ射線和中子射線)在介質(zhì)中傳播時(shí)的衰減特性，當(dāng)將強(qiáng)度均勻的射線從被檢件的一面注入其中時(shí)，由于缺陷與被檢件基體材料對(duì)射線的衰減特性不同，透過(guò)被檢件后的射線強(qiáng)度將會(huì)不均勻，用膠片照相、熒光屏直接觀測(cè)等方法在其對(duì)面檢測(cè)透過(guò)被檢件后的射線強(qiáng)度，即可判斷被檢件表面或內(nèi)部是否存在缺陷。
射線檢測(cè)適用于造船、電子、航空航天、石油化工等領(lǐng)域中的鑄件、焊縫等。
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