低溫實驗 低溫檢測報告 低溫測試標準 低溫測試廠家

高低溫測試機構(gòu) 

低溫試驗目的：檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應性及耐久性。低溫下材料物理化學性能。標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。

低溫檢測條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

低溫環(huán)境對設(shè)備和產(chǎn)品的主要影響有：

a. 使材料發(fā)硬變脆；
b. 潤滑劑粘度增加，流動能力降低，潤滑作用減小； 
c. 電子元器件性能發(fā)生變化； 
d. 水冷凝結(jié)冰； 
e. 密封件失效； 
f. 材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化。 

低溫測試標準：

GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》 
IEC 60068-2-1:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》 
GJB150.4A-2009《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗》 
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》 
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》 
GJB4.3-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫試驗》 
GJB4.4-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗》 
GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.27 低溫試驗 
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.4 低溫負荷試驗 
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.5 低溫貯存試驗 
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》 
RTCA/DO-160E 機載設(shè)備環(huán)境條件和試驗方法 
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》 
QC/T 413-2002《汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件》YD/T 1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術(shù)要求和測試方法》

賽特檢測（STT）依據(jù)國內(nèi)外標準提供溫濕度試驗、光老化試驗、氣體腐蝕試驗、防塵防水試驗等多項環(huán)境和可靠性試驗，涵蓋了氣候環(huán)境試驗、機械環(huán)境試驗及綜合環(huán)境試驗的絕大部分項目,能滿足GJB、GB、GB/T、IEC、ISO、EN、MIL-STD、SAE、ASTM、ISTA、JIS、IPC、JEDEC、GM、NISSAN等各種國際、國內(nèi)環(huán)境及可靠性試驗標準要求！

氣候環(huán)境類試驗項目有：高溫測試、低溫測試、快速溫變測試、冷熱沖擊測試、溫度循環(huán)測試、濕熱測試、低氣壓測試、鹽霧測試、復合鹽霧測試、氙燈老化測試、紫外線老化測試、太陽輻射測試、防水測試、防塵測試、外殼防護等級測試、臭氧測試、霉菌測試、氣體腐蝕測試、高壓蒸煮測試、結(jié)露測試等。歡迎大家來電咨詢。

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