AEC檢測(cè)認(rèn)證費(fèi)用是多少?什么是AEC認(rèn)證?-AEC是美國汽車電子協(xié)會(huì)主要是針對(duì)車載應(yīng)用，汽車零部件，汽車車載電子實(shí)施標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，建立質(zhì)量管理控制標(biāo)準(zhǔn)，提高車載電子的穩(wěn)定性和標(biāo)準(zhǔn)化。

　　AEC對(duì)汽車車載電子零部件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是AEC-Q100-(001~012)，AEC-Q101，AEC-Q200測(cè)試。

　　AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對(duì)每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試，對(duì)于AECQ100其他方面的疑問，詳情請(qǐng)撥打電話17186458376進(jìn)行咨詢

　　AEC-Q100是針對(duì)所有系列芯片，現(xiàn)在芯片種類主要有三類，分別是塑料，金屬，陶瓷。民用芯片主要是塑料和金屬兩類。

　　AEC-Q100文件中,定義出以下幾類不同任務(wù)的測(cè)試群組:

　　測(cè)試組 A: 加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試(針對(duì)芯片產(chǎn)品)Accelerated Environment Stress Tests;

　　測(cè)試組 B: 壽命加速模擬測(cè)試 (針對(duì)芯片產(chǎn)品/IP/工藝庫) Accelerated Lifetime Simulation Tests;

　　測(cè)試組 C: 封裝完整性測(cè)試(針對(duì)芯片產(chǎn)品)Package Assembly Integrity Tests;

　　測(cè)試組 D: 工藝可靠性測(cè)試(針對(duì)Foundry廠) Die Fabrication Reliability Tests;

　　測(cè)試組 E: 電氣可靠性測(cè)試(針對(duì)芯片產(chǎn)品/IO庫) Electrical Verification Tests;

　　測(cè)試組 F: 缺陷篩選測(cè)試(針對(duì)芯片產(chǎn)品)Defect Screening Tests;

　　測(cè)試組 G: 封裝過程后的封裝完整性測(cè)試(針對(duì)芯片產(chǎn)品)Cavity Package Integrity。

　　每一個(gè)測(cè)試群組會(huì)再細(xì)化定義出幾項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目,并說明這些測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試?yán)碚搮⒖己雾?xiàng)半導(dǎo)體業(yè)界所使用的認(rèn)證規(guī)范(例如: JEDEC、MIL-STD883、SAE或者AEC-Q100本身所定義并且于附件里所定義的規(guī)則);每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目也同時(shí)會(huì)定義測(cè)試樣品單一批次數(shù)量、測(cè)試批次量以及判斷合格標(biāo)準(zhǔn),若有額外的規(guī)范也會(huì)定義在每一項(xiàng)測(cè)試規(guī)范當(dāng)中。

　　ACE-Q100對(duì)汽車零件工作溫度等級(jí)定義如下：

　　0等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-150℃

　　1等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-125℃

　　2等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-105℃

　　3等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-85℃

　　4等級(jí)：環(huán)境工作溫度范圍0℃-70℃

　　AECq100是美國汽車電子協(xié)會(huì)針對(duì)汽車車載電子建立的質(zhì)量管理控制標(biāo)準(zhǔn)，主要是提高車載電子的穩(wěn)定性和標(biāo)準(zhǔn)化