廈門SGS-材料失效原因之異物分析簡介

失效問題每時每刻都在發生，遍及各行各業。而失效分析是對失效構件為查明失效原因并采取預防措施而進行的一切技術活動。其相當于材料診斷學，分析人員需要在 人、機、料、法、環、測各個方向運用各種儀器和方法，對缺陷進行綜合分析，查找失效原因。

SGS高分子材料實驗室近期推出的失效分析項目逐漸進入到行業人士的視野。針對失效分析的復雜性和綜合性，我們會連載推出失效分析項目中的模塊化方法，為您揭開失效分析N宗罪之那神秘的面紗……

今天，小編先帶你看看異物分析在失效分析項目中扮演了一個什么角色。

1、異物分析背景

異物，指的是混入原料或產品里的除對象物品以外的物質。異物的生成原因比較多，例如原材料不純、反應有副產物、工藝控制不規范或工藝配方不成熟等。在生產使用過程中，產品表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，或者由于生產缺陷、疏忽等原因引入和形成異物，增加產品不良率，對產品的使用性能帶來極大影響。如何減少異物的引入，一直是生產行業的一大難題。

異物分析便是通過對工業生產、存儲、使用過程中出現的異物雜質或未知物進行成分分析，藉此尋找和追蹤異物產生的原因和來源并進而避免異物的產生。

2、應用范圍

針對產品上的表面污染物、析出物等異常物質進行分析。能夠快速判斷異物或雜質的成分，分析其產生的原因，從而可以快速整改提升產品良率；廣泛應用于高分子材料，化工產品、航空產品及其零部件、汽車產品及其零部件、電子元件產品及半導體制造業等。例如對表面嵌入或析出的顆粒物、小分子遷移物、斑點、油狀物、霧狀物、橡膠噴霜等異常物質進行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產品，消除生產隱患最常用的分析方法之一。

3、分析方法

異物分析從分析方法上來講主要涉及如下三個方面，

1）異物的有機物結構分析，主要用紅外顯微鏡-FTIR，顯微紅外 IR-Microscope；

2）異物或材料表面的元素成分分析，主要用掃描電鏡能譜儀（SEM-EDX）、電子探針（EPMA）、多功能光電子能譜儀（XPS）、能量色散型X 射線熒光光譜儀（EDX）等；

3）是表面觀察，主要用光學顯微鏡（OM）和電子顯微鏡（比如SEM）。輔

助設備 DSC,PGC-MS,前處理設備等

4、案例分享

某容器瓶內側有白色異物析出，客戶想要知道析出物具體是什么并能在將來的工藝過程中避免此問題的再次發生。

實驗室經過紅外分析及譜圖比對先得出其主體成分為PC/PET,再結合實驗室數年積累的數據配方庫推測出白色異物有可能是小分子量助劑，如抗氧劑，分散劑，光穩定劑等，再通過PGC-MS，DSC等設備確定為一種紫外吸收劑UV-326。

4、送樣須知

1）送樣前請配合我們技術溝通了解異物的使用環境，異物的狀態，存在的本體，以及有可能的來源；

2）發現異物之后應對樣品做妥善保存，防止二次污染；

3）選取不易污染樣品的材料或方法保存樣品；

4）樣品在送樣過程中嚴禁暴露在空氣中；

5）樣品在送樣過程中嚴禁用手觸摸；

6）樣品上需標記異物所在位置；

除了材料失效分析外，我們還能根據不同標準要求提供材料及零部件的物性、老化性能、壽命預估、重金屬、鄰苯二甲酸鹽、PAHS等方面的全方位測試服務，歡迎來電咨詢