檢測認證人脈交流通訊錄
功率器件參數測試-絕緣耐壓測試「廣電計量」
這真不是您需要的服務？
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對應法規：MIL-STD-750，IEC 60747系列，GB/T29332等標準
CNAS認可項目：否 廣電計量積極布局第三代半導體功率器件的測試業務，引進國際先進的測試技術，為功率半導體產業上下游企業提供器件參數檢測服務，助力器件國產化、高新化發展。測試項目包括：靜態參數、動態參數、熱特性、雪崩耐量、短路特性及絕緣耐壓測試；設備支持0-1500A，0-3000V的器件參數檢測，覆蓋MIL-STD-750，IEC 60747系列，GB/T29332等標準。
服務介紹
隨著技術發展，第三代半導體功率器件開始由實驗室階段步入商業應用，未來應用潛力巨大，這些新型器件測試要求更高的電壓和功率水平，更快的開關時間。
測試周期：
根據標準、試驗條件及被測樣品量確定
產品范圍：
MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半導體器件等分立器件，以及上述元件構成的功率模塊
測試項目：
靜態參數 符號 Drain to Source Breakdown Voltage BVDSS Drain Leakage Current IDSS Gate Leakage Current IGSS Gate Threshold Voltage VGS(th) Drain to Source On Resistance RDS(on) Drain to Source On Voltage VDS(on) Body Diode Forward Voltage VSD Internal Gate Resistance Rg Input capacitance Cies Output capacitance Coes Reverse transfer capacitance Cres Transconductance gfs Gate to Source Plateau Voltage Vgs(pl) 動態參數 符號 Turn-on delay time td(on) Rise time tr Turn-off delay time td(off) Fall time tf Turn-on energy Eon Turn-off energy Eoff Diode reverse recovery time trr Diode reverse recovery charge Qrr Diode peak reverse recovery current Irrm Diode peak rate of fall of reverse
recovery currentdirr/dt Total gate charge QG Gate-Emitter charge QGC Gate-Collector charge QGE 其他參數 符號 thermal resistance Rth Unclamped Inductive Switching UIS Reverse biased safe operating area RBSOA Short circuit safe operation area SCSOA
