汽車電子e-Mark測(cè)試介紹之大電流注入法實(shí)驗(yàn)

汽車電子測(cè)試 e-Mark測(cè)試 大電流注入法

前言

    根據(jù)不同的車廠、國(guó)家的要求，針對(duì)汽車電子產(chǎn)品的窄帶電磁輻射干擾測(cè)試的差異性是很大的，主要集中在測(cè)試頻段、干擾強(qiáng)度以及天線的切換頻率等等。本文主要根據(jù)ISO 11452-4來(lái)介紹大電流注入法（BCI）測(cè)試的基本條件以及一下要求。

標(biāo)準(zhǔn)名稱

    ISO 11452-2: Road vehicles — Component test methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Part 4: Bulk current injection (BCI)

測(cè)試目的

    該測(cè)試目的是檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)【1MHz – 400MHz】頻帶的抗干擾性能。

測(cè)試條件

? 測(cè)試溫度：(23 ± 5) °C.

? 電源電壓：(13.5 ± 0.5) V for 12 V; (27 ± 1) V for 24 V

? 調(diào)制：
        a). 未調(diào)制正弦波信號(hào)（可使用范圍：0.01 MHz to 18 GHz，校準(zhǔn)時(shí)采用）

        b). 1KHz, 80%調(diào)制的AM（振幅調(diào)制）信號(hào)（可使用范圍：0.01 MHz to 800MHz，測(cè)試時(shí)采用）

    滯留時(shí)間（Dwell time）： 不小于1s

    頻率步長(zhǎng)：

    測(cè)試嚴(yán)酷等級(jí)：

測(cè)試場(chǎng)地：

    測(cè)試應(yīng)該在一個(gè)屏蔽室里完成

測(cè)試設(shè)備要求

    大電流注入探頭，該探頭工作頻率要能滿足測(cè)試范圍，能持續(xù)的經(jīng)受整個(gè)測(cè)試頻率范圍內(nèi)的輸入功率。

? 大電流校準(zhǔn)探頭，該探頭工作頻率要能滿足測(cè)試范圍。

? AN（仿真網(wǎng)絡(luò)）

? 信號(hào)發(fā)生器，擁有內(nèi)部（或者外部）的調(diào)制能力

? 功率放大器

? 功率計(jì)（或者等同設(shè)備），測(cè)試正向傳輸功率和反射功率

? 電流測(cè)量設(shè)備

測(cè)試設(shè)置（替代法）

接地板：材料為0.5mm（最小）后的銅，黃銅或者鍍鋅鋼材；尺寸最小為1000mm寬，1500mm長(zhǎng)或者超出被測(cè)物200mm；接地材料的阻抗應(yīng)不大于2.5豪歐，間隔應(yīng)不大與300mm。

? 電源和AN：對(duì)于遠(yuǎn)端接地應(yīng)用兩個(gè)AN，對(duì)于近端接地可以只用一個(gè)AN（接于正極）。

? EUT擺放：EUT應(yīng)置于絕緣，低介電常數(shù)（不大于1.4）且厚度為50(±5)mm的材料上。

? 測(cè)試線束，EUT和模擬負(fù)載的線束總長(zhǎng)應(yīng)為1000(±100)mm，測(cè)試線束應(yīng)置于絕緣，低介電常數(shù)（不大于1.4）且厚度為50(±5)mm的材料上。

? 大電流探頭：注入探頭所在位置距EUT的距離d如下(替代法)：

        d = (150 ± 10) mm

        d = (450 ± 10) mm

        d = (750 ± 10) mm

測(cè)試結(jié)果性能判據(jù)

    Class A: EUT功能或性能一直保持正常，無(wú)任何異常現(xiàn)象

    Class B: 所有功能或性能在干擾狀態(tài)下，一個(gè)或者多個(gè)功能或者性能偏移指定的容差，但所有功能或性能在干擾移除以后能恢復(fù)到規(guī)定的容差限值以內(nèi)。并且存儲(chǔ)數(shù)據(jù)不能有任何異常現(xiàn)象

    Class C: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适В谑┘痈蓴_之后EUT能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式

    Class D: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适В谑┘痈蓴_之后通過(guò)人為的干預(yù)能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式

    Class E: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适В⑶也荒茏詣?dòng)恢復(fù)到正常模式

    以上是對(duì)汽車電子產(chǎn)品大電流注入法測(cè)試的一些簡(jiǎn)單介紹。摩爾實(shí)驗(yàn)室（MORLAB）的測(cè)試能力涵蓋了汽車電子產(chǎn)品的E/e-mark認(rèn)證需求，其測(cè)試數(shù)據(jù)目前已獲得了e1，e13，e17等相關(guān)認(rèn)證機(jī)構(gòu)的認(rèn)可。并可基于CISPR25或GB 18655-2002為基礎(chǔ)，完成其標(biāo)準(zhǔn)中所定義的輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾等各項(xiàng)測(cè)試。