深圳環宇科學儀器有限公司

TX220-X熒光測厚儀

TX220型X熒光測厚儀 TX220型X熒光測厚儀快速、準確、無損的分析多層鍍層、合金鍍層/涂層,是工業電鍍層X熒光測厚儀的首選產品. 應用范圍鍍層測厚分析、電鍍液離子濃度分析。適用于電鍍、真空鍍、離子鍍的X熒光測厚儀。鋼鐵、有色金屬、塑膠、廢舊原料回收元素分析性能指標可測鍍層：最多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機薄膜鍍層種類：單金屬、合金、無機薄膜精度：最高可達0.01um 厚度相對誤差：單層5%，多層10% 厚度范圍：輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um 最小測量直徑： 2mm 分析時間： 20～100S 技術參數探測器：正比計數器 X光管：鎢（W）靶，最大電壓50kV，最大電流1mA 高壓電源：精密X射線專用電源，最高輸出電壓50kV 濾光片： 6組濾光片電動切換，有效降低背景干擾準直器：直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換對焦系統：旋鈕視覺對焦樣品腔：大氣樣品觀察：高清晰彩色CCD射線頭 X射線防護：三重X射線防護（樣品腔、機殼、程序控制）輸入電壓： AC 220V/50HZ 功耗： 260W 樣品腔尺寸： 660×400×135mm 外型尺寸： 680×460×475mm 重量： 40Kg 聯系人：陳先生手機：13632568748 QQ: 648048428 Email: xrfchina@126.com 詳細請看www.unvstek.com

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陳鶴鳴