深圳東方精工科技有限公司

電子精密元器件自動(dòng)化檢測設(shè)備IC檢測設(shè)備

電子精密元器件自動(dòng)化檢測設(shè)備設(shè)備介紹：本設(shè)備采用先進(jìn)的圖像視覺檢測技術(shù)，對電子精密元器件堆件表面進(jìn)行檢測，主要檢測表面的斑點(diǎn)、凹坑、劃痕等缺陷。系統(tǒng)可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)要求自動(dòng)進(jìn)行檢測，并對有缺陷部位進(jìn)行標(biāo)識。設(shè)備性能特點(diǎn)：自動(dòng)完成零件動(dòng)與相機(jī)獲取圖像同步：自動(dòng)檢測產(chǎn)品表面斑點(diǎn)、凹坑、銅點(diǎn)、劃傷等缺陷。根據(jù)需要選擇需要檢測的缺陷類型。根據(jù)需要自主設(shè)定檢測缺陷大小。對不戶位置進(jìn)行定位，可控制貼標(biāo)設(shè)備會(huì)打印設(shè)備進(jìn)行標(biāo)識。對不良品圖像進(jìn)行自動(dòng)存礎(chǔ)，可進(jìn)行歷史查詢。自動(dòng)統(tǒng)計(jì);

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郝生