上海浦時電子科技有限公司

XT H 450 LC - 工業(yè)CT系統(tǒng)

XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測，帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源 Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測量和中小鑄件NDT檢測的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是一個450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度。彎曲的線性陣列探測器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測器是一臺非常靈活的設(shè)備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等優(yōu)點(diǎn) 可靈活地整合在單個系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像高分辨率數(shù)字成像和處理嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志特性獨(dú)特的450kV微焦點(diǎn)源測量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度高效線性探測器，>80%量子檢測有效率五軸完全可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌特別適用于渦輪葉片的自動通過/不通過檢測應(yīng)用渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析葉片的自動通過/不通過檢測需要微米精度的高密度部件檢測（例如金屬件、鑄件）

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