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測厚儀/涂層測厚儀/鍍層測厚儀/覆層測厚儀/涂鍍層測厚儀/EPK

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出廠價：
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主要規格：
EPK

用　　途：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；

德國EPK(Elektrophysik)公司 EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：　　MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；　　所有型號均可配所有探頭；　　可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；　　可使用一片或二片標準箔校準。 EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術特征：型號 1100 2100 3100 4100 MINITEST 存儲的數據量應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 1 1 10 99 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算，并可設寬容度極限值) 1 500 可用各自的日期和時間標識特性的組數 1 數據總量 10000 10000 10000 MINITEST統計計算功能讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar √ √ √ 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar √ √ 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 √ 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 √ √ √ 其他功能設置極限值 √ √ 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 √ √ 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 √ √ 連續測量模式中顯示最小值 √ √ EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數：　　所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。　　F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層　　N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層　　FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能探頭量程低端分辨率誤差最小曲率半徑 (凸/凹) 最小測量區域直徑最小基體厚度探頭尺寸磁感應法 F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 兩用 FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm/N50μm φ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm 電渦流法 N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 50μm φ15x62mm N2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm 　　F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。　　N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。　　CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭 FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度 FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層 F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(O.1μm) F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭量程低端分辨率很高(O.1μm) F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭可用于較厚的覆層 F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭尤其適合于在管內壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm) F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測頭尤其適合于在管內壁測量 F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm) N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測頭，尤其適合在管內壁測量 N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

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