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司逖供上海3D缺陷檢測儀器上海3D缺陷檢測儀器報價

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司逖供上海3D缺陷檢測儀器上海3D缺陷檢測儀器報價 mc2視覺檢測光譜共聚焦顯微鏡（stil-sa專利）是一種允許設計大焦深（幾毫米）光學系統的技術。對位于擴展深度范圍內的任何樣品，這些系統都能提供清晰、高質量和完美聚焦的圖像。該技術結合了彩色編碼和傳統共聚焦顯微鏡的優點。彩色共聚焦顯微鏡由多色光源照射的裂縫、高質量彩色透鏡、光束分離器、線性b & w光電探測器組成。它具備所有光譜共焦顯微鏡的優勢，提供4種光學頭型號供選擇：deepview, microview, nanoview, vireview 包含：一個mc2/光學頭（見下面描述）一個ccs線照相機 (2k, 4k, 8k) mc2高亮度多led光源箱光源箱和光學頭之間的光纖線：長度為5米雙重作用：按照所需放大率，提供樣本表面的高質量圖片。為檢測和分析一些預定義特征或文理特征，對圖片進行處理。優勢：此技術結合線陣相機，形成了mc2視覺檢測系統，完美地解決了傳統機器視覺在表面瑕疵檢測的痛點，具有明顯的優勢：無需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測所需的同軸光源；環境光線的變化不影響成像效果，適應性強；適應所有的物體表面，無論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面；高達80khz的掃描速度，并可實現非常低的像素尺寸(像素可達0.2×0.2μm2)；高可至2.6mm的高景深，在景深范圍內的任何一個位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無需進行z軸對焦。司逖測量技術（上海）有限公司是法國stil公司在中國的銷售公司。法國stil公司為全球各行企業提供高性能的光譜共焦位移傳感器（chromatic confocal ）已經超過20年。作為光譜共焦傳感器的發明者及全球領先者，法國stil公司基于這一創新的技術開發了兩個系列的產品：從0.1μm到100mm測量行程的點光譜共焦傳感器、從1.8mm到45mm線長的不同測量行程的線光譜共焦傳感器。這些高分辨率的非接觸式傳感器運用于各種不同要求的高精密測量場合。從物體表面細微結構、形狀及紋理粗糙度的測量分析，到工業環境下的在線質量檢測、過程控制與逆向工程，及實驗室研究場合的高精度設備，法國stil光譜共焦傳感器都成了眾多客戶不可或缺的選擇。

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