北京楚齊科技有限公司

涂層膜厚計LZ-200J

日本KETT 渦流膜厚計（涂層測厚儀）LH-200J 型號 LZ-200J LE-200J LH-200J 測定方法電磁式及高頻渦流式電磁式高頻渦流式測定對象磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上絕緣層測定范圍電磁式：0～1500um或0～60.0mils,高頻式：0～800um或0～32.0mils 0～1500um或0～60.0mils 0～800um或0～32.0mils 測定精度電磁式：<15um±0.3um >15um±2%,高頻式：<50um±1um >50um±2% <15um±0.3um >15um±2% <50um±1um >50um±2% 分辨率 <100um 0.1um >100um 1um <100um 0.1um >100um 1um <100um 0.1um >100um 1um 界限設定可設定上/下限數值可設定上/下限數值可設定上/下限數值測試單位公/英制互換公/英制互換公/英制互換顯示方式 LCD數顯 LCD數顯 LCD數顯操作面板密封防水按鍵密封防水按鍵密封防水按鍵附屬品鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書鐵基體/校正標準片/電池/皮套/說明書鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書電源 DV3V 主機5#堿性電池×6個打印機5#堿性電池×4個 DV3V 主機5#堿性電池×6個打印機5#堿性電池×4個 DV3V 主機5#堿性電池×6個打印機5#堿性電池×4個體積 80(W)×80(D)×30(H) 80(W)×80(D)×30(H) 80(W)×80(D)×30(H) 重量 1100g 1100g 1100g

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陶滔滔