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澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統

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品　　牌：
澤攸

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出廠價：
0

主要規格：

用　　途：
綜合、地礦、汽車、能源、石油

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統是在標配的STM-TEM樣品桿上集成光學模塊，從而實現在透射電鏡中進行原位光電測量或者光譜學表征研究。性能指標透射電鏡指標： ● 兼容指*電鏡型號及極靴； ● 可選雙傾版本，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）； ● 保證透射電鏡原有分辨率。電學測量指標： ● 包含一個電流電壓測試單元； ● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程； ● 電流分辨率：優于100 fA； ● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V； ● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。掃描探針操縱指標： ● 粗調范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm； ● 細調范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um； ● 細調分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。光纖指標： ● 光纖外徑250 um，保證電鏡系統真空指標； ● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡； ● 可選SMA接頭、FC接頭。產品特色（1）采用雙向光纖，可應用于CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究；（2）光電一體化解決方案，具有高拓展性；（3）高穩定性，保證電鏡原有分辨率；（4）很長的壽命以上是儀光科技對澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統的介紹，價格請咨詢邱經理17701039158（同微信）。

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