檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- CH-A數(shù)顯臺(tái)式薄膜厚度儀產(chǎn)品介紹 CH-A數(shù)顯臺(tái)式數(shù)顯測(cè)厚儀是用機(jī)械測(cè)量法測(cè)定，適用于實(shí)驗(yàn)室對(duì)塑料薄膜和薄片試樣厚度的測(cè)量，但不是用于壓花的薄膜和薄片。 CH-A數(shù)顯臺(tái)式薄膜厚度儀產(chǎn)品特點(diǎn) 1、結(jié)構(gòu)科學(xué)合理，使用安全可靠 2、數(shù)字顯示，直接讀取測(cè)量結(jié)果 3、測(cè)量范圍廣，精度高 CH-A數(shù)顯臺(tái)式薄膜厚度儀產(chǎn)品應(yīng)用 儀器主要用于塑料薄膜、薄片、紙張、紙板的厚度測(cè)試，還可擴(kuò)展用于箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試 CH-A數(shù)顯臺(tái)式薄膜厚度儀技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定—機(jī)械測(cè)量法》 ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測(cè)定厚度》 CH-A數(shù)顯臺(tái)式薄膜厚度儀產(chǎn)品參數(shù) 1、測(cè)量范圍：0~1mm 2、分辨率：0.001mm 3、測(cè)試面積：50 mm2 4、測(cè)頭端部的力： （1）上測(cè)頭的測(cè)量面為￠6mm平面，下測(cè)頭為平面時(shí)，測(cè)頭對(duì)試樣施加的力為0.5~1.0N； （2）上測(cè)量面為（R15—R50）mm曲率半徑，下測(cè)頭為平面時(shí)，測(cè)頭對(duì)試樣施加的力為0.1~0.5N，相當(dāng)于10.2gf-51gf 儀器正常工作的環(huán)境條件 1、室溫：20℃±10℃。 2、工作環(huán)境清潔，無(wú)灰塵、油污和震動(dòng)源，工作臺(tái)平整穩(wěn)固。 測(cè)厚儀，數(shù)顯測(cè)厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測(cè)厚儀
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