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三維光學輪廓儀

　　Zeta-20 三維光學輪廓儀的典型應用：　　?MEMS(微機電系統)　　?光伏太陽能電池　　?微流體設備　　?數據存儲磁盤倒邊　　?激光打孔　　?半導體晶圓級芯片級封裝　　多功能光學測試模組　　?*ZDot點陣三維成像技術與強大的算法相結合，輕易獲得各種樣品表面信息生成高分辨率 3D 數據。　　?ZIC 干涉反襯成像技術，實現納米級粗糙度表面的成像及分析。　　?ZSI 白光差分干涉技術，垂直方向分辨率可達埃級。　　?ZX5 白光干涉技術，大視場下納米級高度的理想測量技術。　　?ZFT 反射光譜膜厚分析技術，集成寬頻反射光譜分析儀，可測量薄膜材料的厚度、折射率和反射率。　　Zeta-20三維光學輪廓儀優點：　　?多功能——能夠在任何表面上進行多次測量　　?特定應用軟件和算法　　?對振動和樣品傾斜不敏感　　?高光通量設計——實現其他系統無法進行的測量　　?易于使用——用戶可以快速啟動和運行　　混合反射率表面測量：在太陽能電池表面氮化物涂層上的銀。銀反射率大于90%，氮化物反射率小于1%，兩者反射率差非常大，Zeta-20高動態范圍可輕松測量混合反射率表面。　　三維光學輪廓儀產品來源：　　http://www.natengyiqi.com/SonList-2338023.html 　　https://www.chem17.com/st125795/product_36785245.html

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