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飛行時間二次離子質譜儀的功能應用

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　　KoreSurfaceSeerS在飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）系列中，是一款高性價比且經久耐用的產品。它是研究樣品表面化學成分的理想選擇，適用于研發和工業質量控制應用。　　飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）是非常靈敏的表面分析手段。其憑借質譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應用于醫學、細胞學、地質礦物學、半導體、微電子、物理學、材料化學、納米科學、礦物學、生命科學等領域。　　KoreSurfaceSeerS型號的飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）使用的是5keVCs+離子束（可選惰性氣體Ar+），該離子束是脈沖式的，以限度地減少連續離子束可能造成的表面損傷。在每100μsTOF循環中，該離子槍的脈沖時間僅為60ns，因此，主光束提供的電流比連續打開時少1000倍以上。典型的10s實驗時間所產生的電流僅相當于幾毫秒的連續光束電流。要達到所謂的“靜態SIMS"極限，需要在一個點上進行幾分鐘的分析，在這個點上，表面損傷在數據中變得清晰可見(取決于焦點和光束電流)。盡管離子劑量較低，這款TOF分析儀還是非常高效的，這就說明了它具有較高的二次離子數據速率（即使在離子產率相對較低的聚合物上，也通常為5000c/s）。　　SurfaceSeerS儀器特點：　　配備5keVAr+/Cs+脈沖式離子束，以限度地減少連續離子束可能造成的表面損傷，實現樣品“無損"分析；　　針對工業領域的低成本TOF-SIMS儀器；　　均適用于導電物體表面和絕緣物體表面的分析；　　可在1~2min內實現高速率的正負質譜分析；　　質量分辨率可達>2,500m/δm(FWHM)；　　適用于導電物體表面和絕緣物體表面的分析。　　飛行時間二次離子質譜儀如有需要歡迎訪問以下網址與我們取得聯系　　http://www.nanochina17.com/NChina-Products-38467930/ 　　https://www.chem17.com/st312447/product_38467930.html

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