詳細說明

　　顆粒圖像分析儀EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經(jīng)驗，為各種應用引入滿足各種不同應用需求的粒徑粒形分析方法。

　　激光粒度粒形分析儀

　　測量原理

　　粒徑分析 (PSA)

　　EyeTech 激光粒度儀采用有名的激光遮擋法(LOT)。這是一種針對旋轉(zhuǎn)的激光光束遮擋時間 的粒徑分析技術(shù)。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描，該激光采用楔形棱鏡，以200Hz的速度旋轉(zhuǎn)。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續(xù)時間來計算。這免除其它分析技術(shù)所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。

　　EyeTech 激光粒度儀具有高精度、可靠性和重復性。我們激光方法在600個不連續(xù)的時間間隔進行粒徑測量，得到高分辨率的粒徑分布。顆粒粒徑是直接測出來的，而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數(shù)、粘度變化、布朗運動、熱傳導和其它物理現(xiàn)象的影響。

　　動態(tài)粒形分析 (DSC)

　　動態(tài)粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數(shù)字圖像并分析大量形狀參數(shù)。動態(tài)顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態(tài)流動過程中，可以連續(xù)捕捉“靜止"圖片。這樣就不必停止液體流動和對靜止物體的監(jiān)測。大量圖片被放大、處理和自動分析，確保結(jié)果具有充分的代表性。圖像和統(tǒng)計數(shù)據(jù)都可以打印或儲存，作為樣品記錄。

　　主要技術(shù)特點：

　　1、直接對每個顆粒進行測量得到顆粒分布，不是根據(jù)其他二級特性推算出來的顆粒分布;

　　2、不會因為樣品折射指數(shù)、粘度變化、布朗運動和熱對流等不確定因素引起測量誤差;

　　3、分析結(jié)果不依于賴顆粒或分散介質(zhì)的光學特性，可以測量高折射率顆粒、透明顆粒、半透明顆粒以及混合材料顆粒;

　　4、多種測量池，適合進行各種樣品干態(tài)、濕態(tài)分析

　　5、自動校準，免校正和標定;

　　6、高分辨率、可重復性和寬動態(tài)范圍;

　　7、提供弗雷特(Feret)直徑、面積、周長、形狀因子、長細比、凹凸度、橢圓度等等40個顆粒粒度和粒形參數(shù);

　　8、“眼見為實” ― 我們*的視頻通道除能夠進行粒形分析，還可以給您測量顆粒的實時動態(tài)圖像Video顯示。

　　9、特有的顆粒信息數(shù)據(jù)庫功能，每個顆粒的圖像和粒形信息都存儲在數(shù)據(jù)庫里，方便查閱、比較和檢索測量池具體配置。

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