檢測認證人脈交流通訊錄
- 冠層分析系統是一種半球形的成像技術,可以方便、準確測定光學輻射和樹冠結構參數,具有良好的穩定性,使用更多的森林和農田生態系統。植物樹冠內的光環境在很大程度上取決于樹本身的結構。目前，已經有學者將冠層分析系統用在蘋果、梨、柿、核桃等果樹上，研究其冠層結構光輻射特征，作為判斷樹體結構是否合理的重要指標，但針對板栗冠層結構光輻射特征的研究甚少。 葉面積指數是研究植物許多生物化學過程的關鍵參數和研究植被冠層結構的重要指標，其大小與植被種類、生長周期、葉傾角、葉簇以及非葉生物量等因素有關，此外還受葉面積指數的定義和冠層分析系統測定方法的影響。因此，對于特定對象應該選擇適宜不同算法。以LAI為體系的基本反演算法，在對葉面積指數進行數據分析之前，應篩選出適宜板栗葉面積指數的計算方法，而冠層分析系統試驗中往往忽略了這一步，只是盲目的參考已有的計算方法。 除平均葉傾角和冠上總輻射以外，其他冠層特征參數因樹體不同差異很大。平均葉傾角與其他冠層結構光輻射參數間的相關性不顯著，冠層分析系統分析冠上輻射與冠下輻射間的相關性不顯著，其他冠層結構光輻射參數間均存在極顯著相關性。 資料來源：http://www.tpny17.com/ 冠層分析系統
