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Gen5 C-SAM超聲波掃描顯微鏡(超聲波探傷儀)

SONOSCAN Gen5 C-SAM超聲波掃描顯微鏡(超聲波探傷儀) SONOSCAN Gen5 C-SAM超聲波掃描顯微鏡通過樣品在液晶(Liquid Cristal)和熒光微型熱成像（FMI）的圖像,分析產品內部的失效情況檢測：1.材料內部晶格結構，雜質顆粒，沉淀物；2.內部裂紋；3.分層缺陷；4.空洞、氣泡。應用: Gen5 C-SAM型聲學顯微鏡是新一代聲學顯微成像（ AMI ）的創新。它具有尖端技術，先進的功能，并改善了人機工程學，將聲學顯微成像提高到新高度。Gen5具有廣泛的用途。無論是倒裝芯片或晶圓的無損失效分析，工藝程序，研發，高可靠性軍事應用，或者篩選智能卡， Gen5都可以滿足您所有的需求。主要特征： * 虛擬二次掃描模式：收集并以數字形式儲存廣泛的聲學數據從而可以執行完整的樣品分析，即使在沒有可用樣品的情況下，也能進行分析。 * TurboSpeed在高頻率下可提供較快成像速度，在高像素密度下，圖像采集速度可增加2.5X。 * 數字圖像分析器 (DIA) 采用先進算法，量化接口數據，并幫助建立精確和自動的接受/拒收標準。 * ESD安全配備清潔室。 * 開放式掃描區，方便裝卸測試樣品，能夠檢測JEDEC的2托盤或者300mm晶圓。 * 慣性平穩掃描裝置不僅能減少振動并且能夠確保最佳的掃描結果 * 多語言操作系統和視覺聲學接口。

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