檢測認證人脈交流通訊錄
SunScan作物冠層分析系統，植物冠層分析儀，林地冠層分析儀
用途：通過測量作物冠層PAR值提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(LAI)。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
原理：根據冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程(Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數。
產地：英國
