杭州精科儀器有限公司

FB760-6型雙棱鏡干涉實驗儀

18世紀法國科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級)，求得光的波長(納米量級)。目前很多物理實驗教科書都將該方法帶入課堂，測量激光之波長。本雙棱鏡光干涉實驗儀具有這方面的功能并有以下優(yōu)點： ●配有半導體激光(650.0nm)單色光源，半導體激光經(jīng)偏振片處理可以將光強降低到用其作光源，有既具相干性又不傷害眼睛的優(yōu)點，可很方便調出圖像清晰干涉條紋。 ●導軌和轉盤采用高強度優(yōu)質鋁合金材料、不會生銹、經(jīng)久耐用。本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。本儀器可以完成以下實驗： ●觀察雙棱鏡的干涉現(xiàn)象。 ●測量激光器的波長。 ●也可以換其他光源進行雙棱鏡干涉實驗。儀器主要技術參數(shù)： ●導軌長100.0cm，分度值1mm（可為用戶特制尺寸）。 ●配有左右橫向平移支架，最大移程40mm。 ●測微目鏡和支架測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm。 ●光源半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。工作電壓直流3V。

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