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薄膜厚度測量儀

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薄膜厚度測量儀CHY-C2用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片等各種材料的厚度精確測量。一.薄膜厚度測量儀特征 ·機械接觸式測量方法，不受測量材料的限制 ·進口優質傳感器，測量分辨率高達0.1微米 ·進口優質傳動元件，保證了試驗結果的穩定性、準確性 ·測量頭對薄膜（紙張）的接觸面積、接觸壓力嚴格遵循相關標準 ·特殊結構設計，保證上下測量平面的平行 ·靈活、方便的配重方式更能滿足范圍更寬的測量，非標試驗易于實現 ·試驗數據大屏幕液晶顯示，操作按鍵人性化設計 ·可設置手動、自動兩種試驗模式，測量結果自動統計、打印 ·具有電腦通信接口 ·兼容ISO、ASTM等多種測量標準二.薄膜厚度測量儀結構組成本試驗儀主要由控制系統、測量系統、打印輸出系統三部分組成。測量系統對薄膜進行測量，并輸出相應電信號；控制系統用以參數的設定、修改、傳輸信號的處理、測量結果的顯示等；打印輸出系統的功能是統計結果的輸出，打印試驗結果。三.薄膜厚度測量儀功能原理簡述本試驗儀采用目前世界測量領域最先進的技術成果，確保測量結果的高精確性，多次測量結果的高度一致性；且操作調試極其方便，幾近于自動化操作，最大限度地減少了人為因素對測量結果帶來的影響；對于單次測量，僅打印輸出測量結果，對于多次測量，可對測量結果進行統計、分析、打印輸出；接觸面積、測量壓力、移動速度等嚴格遵循相關標準的規定。四.薄膜厚度測量儀主要技術指標測量范圍：0～2mm（常規）（0～6mm可選）分辨率: 0.1μm 測量速度：10次/min（可調）測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；〔50±1kPa（紙張）〕接觸面積：50mm2（薄膜）；〔200mm2 （紙張）〕電源：AC 220V 50Hz 外形尺寸：300（L）mm×275（B）mm×300（H）mm 凈重：33kg 五.薄膜厚度測量儀標準 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 Labthink廣州發布，電話：020-81095968，傳真：020-81093749，手機：13631382021

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