貴金屬本身就是具有產量稀少、價格昂貴的特點。從貴金屬的元素構成看，集中表現在金、鉑、銥、鋨、銀、鈀、銠以及釕等方面。若從化學元素周期看，這些元素原子序數分別為76． 79、44．47，界定在第六、第五周期中，其化學 和物理性質上都較為相同。
由于貴金屬中較多元素具有相同的外電子層結構，如金、銀與鉑等，物化性質相近，在熱 電性、抗腐蝕性等方面具有優勢：同時元素催 化性能、高溫抗氧性、感光性也是這些元素具 備的主要特征。
將無損檢測引入判斷貴金屬物品所用材料的判斷，具體有化學方法、電子探針分析法、x射線熒光光譜、密度法等，不同貴金屬適用于不同的方法。
密度法又可稱為水吊法、靜水稱重法，在黃金檢測中極為常見。從密度法實現的原理看，主要以阿基米德定律的為主，可直接在浸液、空氣中放置貴金屬，在此基礎上就結合其重量大小，完成金屬密度計算工作，一般金屬成色會隨密度增大而愈發明顯，這樣便可完成金銀成色的判定過程。其中的阿基米德定律，涉及的參數集中表現在浸液密度、浸液中金屬重量、空氣中金屬重量，分別對三個參數利用P、Ml與M進行表示，并利用D表示密度，則有 D=M×p／(M．M1)。假若需對黃金含量進行計算，可直接將其他參數如雜質含量、金含量 以及質量等引入，便能達到黃金含量計算的目的。
這種測試方法應用中，操作極為簡便，且無需引入精密儀器設備，無論在檢測原材料或成品方面，都能滿足無損檢測要求，通過實踐研究發現，一般無損檢測中，僅需控制0．3％的測試差，便可達到測試目標。然而需注意密度法應用中，也有一定弊端存在，以首飾的無損檢 測為例，若款式以空心形態為主，此時利用密 度法將首飾置于浸液中。很容易導致就浸液氣泡留存在首飾中，同時難以具體計算雜質含量 以及成分配方等。因此，實際應用中應結合貴金屬實際檢測要求，判斷密度法是否適用。
對于貴金屬無損檢測，現行國內外較為推崇的方法集中表現在X射線熒光光譜法方面。其在應用過程中，會在樣品選定的基礎上，將X射線引入其中，此時在X射線作用下，樣品內元素將會有次級特征x射線產生，對于該類型射線可被叫做x射線熒光。
事實上，貴重金屬中本身包含了不同元素，這些元素所展現的x射線特征也存在明顯差異，僅需對不同元素x射線特征包括強度、波長等進行分析，便可完成元素含量的推算過程。
一般如測試層的薄厚、雜質元素的存在的都可能影響測試結果。同時實際檢測中，很容易陷入到一定的誤區，如對“熒光”過分關注，部分檢測人員多會認為，x熒光儀器必須有x光管融入其中，但事實上僅需保證儀器為x射線激發，便可作為分析儀。再如檢測人員認為分析時間控制在最小范圍內，意味測試效率較高，但若在測量中測試時間不足，很難保證測量精度。
對于電子探針分析法，其又可被叫做電子探針x射線顯微分析，可使貴金屬中的具體成分被檢測出來，一般在元素分布狀態檢測、材料組織結構分析中，這種方法較為適用。
從電子探針應用原理看，其與x射線熒光方法相近，強調在對樣品分析中，從其x射線方面著手，結合定量、定性等分析方式，但區別于x射線熒光，電子探針利用點電子束取代x射線，在對樣品發生作用后，便能得到相應的檢測結果。
通過實踐研究發現，電子探針分析實際應用過程中，對于確定包金表層含量、超出3um厚度的鍍金以及其他各種類型K金，都較為適用。
如在貴重金屬檢測時需保證電子探針儀器可發揮作用。該儀器應用下需投入較高的測試成本，有相關統計研究發現：若涉及較多測試點，每點將需要50元左右的測試費用，這 對于商業檢測并不適用。而且電子探針應用下強調掃描過程中充分發揮電子束的作用，但電 子束通常難以檢測深度較大的材料，如鍍層較厚金屬、包金層較厚的材料．檢測中很難對材 質含量、成分進行有效檢測。再如金屬以不規則形態為主或體積過大，檢測中也難以取得良 好的效果。另外，檢測中電子探針采用的方式以微區分析方法為主，最終測定的結果不具備 得較強的代表性。
目前在對黃金、銀純度測量，以及其他元素如鈀、銠與鉑等元素純度測定中，須引入相應的化學分析方法，應用過程中可直接將化學試劑引入其中，對檢測對象中的雜質元素進行消除，并測定元素含量比例。
從應用原理上來看，用過程中需適量的銀融入試樣中，并選取多孔性灰皿作為載體，將試樣放置其中，在此基礎上采取氧化灰吹。
以33．30％～50．00％含金量為例，樣品檢測中灰吹法允許差僅保持為0．05％：再如99．00％～99．95％含金量樣品，灰吹法應用下的允許差為0．02％，充分說明灰吹法測試精度較高。
綜合貴金屬檢測中應用的無損檢測技術，以密度法為例，假若金屬形狀以不規則形態為主，測試結果準確性將難以得到保證。再如X射線熒光，其在實際檢測過程中會因雜質元素的存在而導致測試結果較大，所以建議子啊分析儀選用中以大型為主，其可使測試結果較為準確。同時，在具體測試中也可發現，盡管密度法應用下，金屬浸液中的殘存氣泡可被消除，然而因金屬中的雜質含量、成分難以確定，所以測試效果仍會受到影響。
對于x射線熒光，若分析儀為小型，由于有較多雜質因素對測試過程進行干擾，測試進度難以保證，可 考慮結合具體圖譜，將元素固定峰位明確，在此基礎上采取定性分析方法，對雜質元素情況進行判斷，有利于檢測精確度的提高。
表一：不同無損檢測技術應用的優勢與弊端
不同無損檢測技術都有一定的優勢和不足，具體建議
實際就檢測過程中應該認識到，若檢測對象為空心飾品，采用密度法時將會有測試盲區出現。尤其在測試對象包含過多組分時，計算結果也不準確。所以在檢測過程中建議檢測技術聯合使用，如電子探針、x射線熒光組合使用，可解決測試盲區問題，而且雜質含量也能被有效測定。而在x射線熒光方法應用下，其在測試中，影響因素問題集中表現在雜質干擾、測試面選擇等問題上，要求實際應用過程中，針對 存在的雜質干擾問題，需采取定性分析方式，確定雜質類型，在此基礎上對雜質含量值進行判定。
對于測試面問題，應該注意以大而平整面為主，并對測試面采取反復測試操作，綜合分析每次測試，最終以平均值定結果。另外使用化學分析方法時，盡管測試中可取得精確度較高的結果，但由于測試過程中耗時較長，容易對金屬樣品產生一定的破壞，所以在商業檢測中也難以適用。
