檢測認證人脈交流通訊錄
冷場發射掃描電子顯微鏡檢測EDS檢測
這真不是您需要的服務？
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對應法規：N
CNAS認可項目：是 日本日立 SU8010 冷場發射掃描電子顯微鏡（SEM+EDS）
主要配置：
能譜儀(EDS)；離子濺射儀（Au-Pd靶）等
主要用途：
用于有機和無機材料的微觀形貌結構的研究，通過觀察微觀形貌以及元素的含量來控制樣品的質量。
主要技術指標：
分辨率：0.3nm；
加速電壓：0.1 ~ 30kV （0.1KV）；
具有高位和低位二次電子探測器；
樣品臺驅動：3軸馬達驅動(包含 兩軸手動)；
物鏡光闌: 4孔可調式，內置加熱自清潔裝置
主要學科領域：
材料科學,礦山工程技術,能源科學技術,航空、航天科學技術
服務技術領域：
新材料及生產工藝和設備,納米材料,其他
