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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低氣壓（高度）試驗(yàn) GJB150.2-1986,軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境方法 第2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)GJB150.2A-2009,半導(dǎo)體集成電路機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法SJ/T10745-1996第3.4條,半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分：低氣壓GB/T4937.2-2006,電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)GB/T2423.21-1991,電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T2423.25-1992,電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T2423.26-1992,電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試
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