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微電路及器件質(zhì)量一致性試驗檢測
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對應(yīng)法規(guī)：
CNAS認(rèn)可項目：是 - 1、SJ 20668-1998微電路模塊總規(guī)范2、GJB 2438A-2002混合集成電路通用規(guī)范3、AEC Q100：2007 集成電路應(yīng)力試驗評價4、GJB597A-1996半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范5、GB4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第1部分：分立器件和集成電路總規(guī)范,1、《微電路模塊總規(guī)范》SJ 20668-19982、《混合集成電路總規(guī)范》 GJB 2438A-2002 3、《集成電路應(yīng)力試驗評價》AEC Q100-2007 4、《半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范》GJB597A-19965、《半導(dǎo)體器件 第1部分：半導(dǎo)體分立器件和集成電路總規(guī)范》GB4589.1-2006
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