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x射線熒光光譜薄膜成分、薄膜厚度測量系統 SMX-FPV

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美國Solar System SMX-FPV系統 Console XRF Thin Film Composition and Thickness Measurement Systems 帶控制臺x射線熒光光譜薄膜成分、薄膜厚度測量系統 System SMX-FPV platform enables PV manufacturers to measure large rigid substrates (such as full glass solar PV panels) as well as reel-to-reel foil output from coil coating machines. 光伏板制造商使用SMX-FPV系統臺可以測量大的堅硬的基板（如整塊玻璃太陽能光電板）和卷繞鍍膜機生產的卷膜。 The SMX-FPV x-ray head can be precisely maneuvered in three axes, enabling detailed analysis of specific substrates at multiple locations, making SMX-FPV an ideal solution for offline sampling of in-process or finished product. SMX_FPV系統的X射線頭全自動化移動，空間精確定位。多點詳細測量分析特殊基材，以上性能使SMX-FPV系統在中間產品和成品的離線抽樣檢測方面表現優秀。 GENERAL SPECIFICATIONS (Subject to change) 一般的特性（如有變更，另通知） Dimensions/ 尺寸 H 72”(183cm) W 65”(165cm) D 92”(234cm) /高183厘米、寬165厘米、長234厘米 Weight/重量 500 lb (225 kg)/225千克 X-Ray Generation/ X射線源 Microfocus Be window x-ray tube, 50W/微聚焦、鈹窗x射線管，功率：50瓦 Available 75W generation column/75瓦發生柱 Collimation/準直器 Up to five (5) primary filters/多至五個第一濾波器 Motorized Collimator Palette/準直器電機驅動 Available circular or rectangular collimators/圓形或矩形準直器 X-Ray Detection/ 檢測器 Silicon PIN Detector/硅PIN檢測器 Available Silicon Drift Detector (SDD)/硅漂移檢測器 Digital Signal Pulse Processing/數字信號脈沖處理 Sample Positioning/ 樣品定位 Automatic Crash Protection /自動防撞保護 LED Sample Lighting /LED樣品燈 Contrast Auto-Focus; Laser Triangulation Focus (with camera-based systems)/對比自動聚焦；激光三點對焦（基于攝像頭系統） Stage/X-Ray Head Positioning /臺/測量頭定位 Motorized XYZ x-ray head positioning system, 26”x50”x6” (66x127x15cm) range /XYZ電機驅動X射線頭定位系統(66x127x15厘米) Options/選件 SDD Detection Column Upgrade Package; Thermal Shield Protection Package/絕熱保護盒，SDD檢測器升級包 Software/軟件 Mira XRF Software platform with FP Analysis, Data Transfer Protocol, Ethernet/Mira XRF軟件，具備FP分析、數據傳輸協議、以太網功能。

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劉偉剛

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