深圳市儀高南儀器有限公司

薄膜太陽能電池CIGS/CdTe分析儀 SMX-BEN

SMX-BEN 薄膜太陽能電池CIGS/CdTe分析儀 (Solar PV thin film CIGS, silicon-free substrates) 產品特色∶ 1. 全球唯一能提供NIST等級的標準樣品，與美國NREL共同合作。 2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm 3. 可直接儲存及建立各種鍍層的Protocol參數(shù)，可設定多點分析，以確定制程品質。 4. 針對CIGS各種鍍層材質的濾光片，共5種 5. X-Y-Z三軸自動定位，軸承最長距離為8”X8”X6”，并有自動聚焦弁?/div> 6. 具有表面相對等距自動調整系統(tǒng) 7. 采用自然光，LED白光，無色差 8. 采用最新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測器 9. 具有防撞安全裝置 10. 具有操作時輻射安全裝置 11. 可將實驗室建立的數(shù)據(jù)直接復制至線上檢測機臺上。基本規(guī)范: X射線發(fā)生部電壓最大50kV，多段電壓切換電流 4-1000μA，可做自動調整設定準直器共五個偵測器 Pin or Si 檢測器冷卻方式電子冷卻五種濾波器自動切換電源 AC110~240V, 50/60 Hz 應用領域: 鍍層厚度分析 (1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。 (2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時測量。 (3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。

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劉偉剛