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鍍層測厚儀ROHS

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品　　牌：

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出廠價：
450000 元/臺

主要規格：
X-Strata980

用　　途：
鍍層測厚ROHS

X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。應用: --RoHS/WEEE --有害元素痕量分析 --焊料合金成分分析和鍍層厚度測量 --電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量 --五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量 --貴金屬合金分析和牌號鑒定產品特點: --100瓦X射線管 --25mm2PIN 探測器 --多準直器配置 -掃描分析及元素分布成像功能 --靈活運用多種分析模型 --清晰顯示樣品合格/不合格 --超大樣品艙 --同時分析元素含量和鍍層厚度技術參數: --元素范圍:S(16) to U(92) --可測鍍層層數:5 層 (4 層+ 底材),可同時分析25種元素成份 --X射線管功率:100W (50kV and 2mA)微焦點鎢靶X射線管 --探測器:25mm2 PIN 電制冷固態探測器 --濾波器/準直器:最多可包含5個初級濾波器和4個準直器規格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ?) --數字脈沖處理器:4096多道數據分析功能;自動數據處理,包括死時間修正 --電腦/顯示器/系統軟件 Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置 15”LCD, 1024 x 768 MicrosoftTM XP SP2 --攝像系統:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution --電源:85~130V or 215~265 V, 頻率47Hz to 63Hz --工作環境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水 --XYZ軸行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”) --最大樣品尺寸 305 x 390 mm (12 x 15.4”)，樣品高度為 50mm (2”) 305 x 352 mm (12 x 13.9”)，樣品高度為 203mm (8”) --艙室尺寸: (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”) --外型尺寸高765mm (30.1”) 寬 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended 深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended

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