檢測認證人脈交流通訊錄
- 產品介紹 立2011年新推出了SU9000超高分辨冷場發射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改進的真空系統和電子光學系統，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的Flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型電子光學系統設計達到掃描電鏡世界最高分辨率：二次電子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。 2. Hitachi專利設計的E×B系統，可以自由控制SE和BSE檢測信號。 3. 全新真空技術設計使得SU9000冷場發射電子束具有超穩定和高亮度特點。 4. 全新物鏡設計顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率。 5. STEM的明場像能夠調整信號檢測角度，明場像、暗場像和二次電子圖像可以同時顯示并拍攝照片。 6. 與FIB兼容的側插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。 項目 技術指標 二次電子分辨率 0.4nm （加速電壓30kV，放大倍率80萬倍） 1.2nm （加速電壓1kV，放大倍率25萬倍） STEM分辨率 0.34nm（加速電壓30kV，晶格象） 觀測倍率 底片輸出 顯示器輸出 LM模式 80~10,000x 220~25,000x HM模式 800~3,000,000x 2,200~8,000,000x 樣品臺 側插式樣品桿 樣品移動行程 X ±4.0mm Y ±2.0mm Z ±0.3mm T ±40度 標準樣品臺 平面樣品臺：5.0mm×9.5mm×3.5mmH 截面樣品臺：2.0mm×6.0mm×5.0mmH 專用樣品臺 截面樣品臺：2.0mm×12.0mm×6.0mmH 雙傾截面樣品臺：0.8mm×8.5mm×3.5mmH 信號檢測器 二次電子探測器 TOP 探測器（選配） BF/DF 雙STEM探測器（選配）
