檢測認證人脈交流通訊錄
儀器用途：
LW300MT專為微電子行業量身定做，適用于硅、砷化鎵、磷化銦等基片6″8″盤的生產工藝檢查；可以方便的快移和精確的位移檢查；也可以適用其它需較大面積標本的工藝檢查。技術要求：
目 鏡：10X 廣角目鏡, 焦距25 mm, 視場數Φ22 mm。
三目鏡： 30°傾斜，瞳距：53~75 mm。
物 鏡：無限遠平場消色差明/暗視場物鏡 (無蓋玻片)放大倍數數值孔徑工作距離(mm)備注5X0.129.7010X0.253.7320X0.407.2340X0.603.04轉換器： 四孔滾珠內定位轉換器。
載物臺：雙層機械式載物臺, 尺寸：210 X 140 mm，移動范圍：75 X 50 mm。
聚光鏡：阿貝聚光鏡（帶孔徑光欄, 數值孔徑1.25）。
調焦機構：粗微同軸調焦，粗動手輪松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值2μm/格。
照 明：上光源（落射照明）12V50W鹵素燈，亮度可調。下光源（透射照明）12V30W 鹵素燈，亮度可調。
電 源：輸入電源電壓 (85~265V 50/60Hz)。
選購件：
1、目鏡：WF16X/11mm，WF20X/9mm，10X帶尺可調目鏡2、物鏡:PL4X，PLL40X，PLL50X，PLL60X，PLL100X（干鏡），PL100X（oil）3、攝像系統：數碼攝像頭130萬或300萬，數碼相機4、測量軟件，金相分析軟件等
