深圳大茂電子蘇州辦事處

檢測通 >> 深圳大茂電子蘇州辦事處

首頁

公司簡介

CMI900X射線熒光測厚儀

這真不是您需要的產品？
品　　牌：

直接提問 | 回首頁搜
出廠價：
0

主要規格：
CMI900

用　　途：
X射線熒光測厚儀

CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。 CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。技術參數： CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業 A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。 B ：精確度領先于世界，精確到0。025um (相對與標準片) C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。 D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品； E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米

深圳大茂電子蘇州辦事處

薛勇

[聯系時請說明來自檢測通]

在線客服：
留言咨詢

聯系方式：
請點擊查看電話

郵件：
發送郵件

地址：
蘇州市三香路1298號光大銀行大廈21樓E1

午夜探花在线观看_精品国产青草久久久久96_日日碰狠狠躁久久躁婷婷_曰批又黄又爽免费视频_亚洲图片中文字幕_天堂av资源在线_国产精品又粗又长_国产精品久久久久久久久毛片_成人高潮免费视频_国产黄色特级片

深圳大茂電子蘇州辦事處

熱門推薦

CMI900X射線熒光測厚儀

推薦產品