產(chǎn)品簡(jiǎn)介:CMI980系列能夠執(zhí)行膜厚量測(cè)及元素分析。使用高解析度檢測(cè)器提高元素量測(cè)之精度及膜厚量測(cè)之準(zhǔn)確度，使用小準(zhǔn)直器對(duì)於小點(diǎn)可以進(jìn)行元素分析，也可對(duì)於產(chǎn)品進(jìn)行掃描後顯示有害元素的組成及含量分布圖。

　　適用產(chǎn)業(yè):用於電子元件、半導(dǎo)體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾

　　X-Strata980結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率極高，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí)，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對(duì)您的應(yīng)用選擇最合適的分析模型：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè)。一旦識(shí)別出問(wèn)題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。100瓦X射線管25mm2PIN探測(cè)器多準(zhǔn)直器配置掃描分析及元素分布成像功能靈活運(yùn)用多種分析模型清晰顯示樣品合格/不合格超大樣品艙同時(shí)分析元素含量和鍍層厚度

　　應(yīng)用

　　-RoHS/WEEE-有害元素痕量分析-焊料合金成分分析和鍍層厚度測(cè)量-電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測(cè)量-五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測(cè)量-貴金屬合金分析和牌號(hào)鑒定