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LA-S型植物年輪分析系統

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LA-S型植物年輪分析儀系統用于對磨平拋光的植物年輪全盤、木芯進行多參數快速分析。

　　LA-S型植物年輪分析系統　　LA-S型植物年輪分析系統至少具備以下功能：　　植物年輪測量分析：　　1)可自動判讀年輪數　　2)各年輪平均寬度　　3)早材及晚材寬度　　4)各年輪切向角度和面積　　5)可自動劃分出年輪邊界、早材邊界、晚材邊界，以及識別出很窄的樹輪　　6)可交互刪除偽年輪、插入斷年輪，可自動生成國際上通行的分析年表。分析獲得的測量數據具備進一步做交叉定年、數據分析處理能力　　7)具有年輪圖線數據【暫存】【加載】特性，以便日后不斷地分析比對。具有【精細】分析的“軟件體視鏡”特性。有路徑端點【吸附】定位特性，對不滿意的分析路徑還可斷開、刪除、增加與編輯，以及可將分析結果圖線保存。圖線上調整角度具有跟隨特性，畫路徑的時候可【取消】(右鍵菜單點【取消】或直接按【Del刪除】鍵)　　8)可直接分析最大達到2萬萬像素(2億像素)的超高精度掃描的超大幅面年輪圖像(能分析在3200dpi分辨率下，成像分析430mm×30mm區域的年輪灰度圖像(A3掃描儀)，精度遠高于目前常用的1600dpi分辨率)。具有對年輪寬度　　9)可保存或讀取TIFF、BMP、PNG、JPEG標準格式的圖像　　人工輔助修正：圖像可放大縮小和局部觀察，可實現鼠標區域選擇統計。　　3.自動雜質剔除：根據尺寸等方面的區別，進行自動雜質剔除。　　4.輔助測量功能：　　尺寸標定：自帶標定功能，實現半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正；　　長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量；　　5.數據報表導出：分析結果能導出到Excel表，以便存檔和統計。還可輸出分析標記圖，以便發表論文用。　　LA-S型植物年輪分析系統標配光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀，最大分析測量面積：反射稿為A4加長幅面(35.6 cm×21.6 cm)，掃描根面積30 cm×20 cm，可分辨的最小尺寸0.008×0.008 mm。植物圖像分析測量精度(由掃描儀決定，可軟件部分校正)：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長度測量重現性誤差　　最新產品資料、圖像、實戰操作視頻可從www.wseen.com的網站下載。

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沈虹

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