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儀器類(lèi)別:
應(yīng)用領(lǐng)域:
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蔡司高端三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
上海
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蔡司萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)儀，基本性能及數(shù)據(jù)同JD5；讀數(shù)顯微鏡的分度值:0.001mm；直接測(cè)量范圍:0～100mm；外尺寸測(cè)量:不用頂針時(shí):0～500mm，用頂針架時(shí):0～180mm。...
上海
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蔡司橋式測(cè)量機(jī)
上海
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三豐電子顯微鏡
上海
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三豐三坐標(biāo)機(jī)
上海
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日本三豐測(cè)高儀
上海
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各類(lèi)三豐千分尺
上海
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主要技術(shù)指標(biāo)：納米壓痕試驗(yàn)縱向載荷力和位移可實(shí)現(xiàn)的最大載荷：10mN位移分辨率：0.0004nm可實(shí)現(xiàn)的最大位移：5μm2納米劃痕試驗(yàn)橫向載荷力和位移可實(shí)現(xiàn)的最小橫向力：<5μN...
上海楊浦區(qū)
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主要技術(shù)指標(biāo)：最大磁場(chǎng)15T，最低溫度300mK 功能/應(yīng)用范圍：低溫時(shí)測(cè)量樣品在磁場(chǎng)下電學(xué)輸運(yùn)性質(zhì) 技術(shù)特色：垂直樣品的磁場(chǎng)能達(dá)到15T，測(cè)量噪聲低 ...
上海楊浦區(qū)
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主要技術(shù)指標(biāo)：測(cè)量模式：接觸模式、輕巧模式、MFM、EFM、智能掃描模式、抬高模式、力曲線模式、TR-Mode、橫向力模式、STM、C-AFM；XY方向不小于90µm×90µm，Z方向不小于10...
上海楊浦區(qū)
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