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物理特性測試系統 (physical property measurement system)
主要技術指標：溫度范圍：1.9-400K；磁場：+-9TACMS選件：交流磁化率：2*10-8emu；直流磁化率：2.5*10-5emu；VSM選件：直流磁化率：10-7emuACT交流電輸運；Resistivity電阻(<=4M歐姆...
上海楊浦區
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磁光測量低溫恒溫系統 (magneto plasmadynamic measurement low temperature
主要技術指標：用于磁光效應的檢測，可以測量其偏振性，相干性 功能/應用范圍：磁體，光學測量 主要測試和研究領域：材料/珠寶首飾其他...
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近場掃描光學顯微鏡 (Scan near-field optical microscopy)
主要技術指標：采用3DFlatscan掃描器，掃描范圍:XY方向70um、Z方向70um，另外有30um和10um掃描器選配，掃描步進：70um掃描器＜1nm、10um掃描器＜0.1nm，掃描器厚度7mm,重量75克；近場光學顯...
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掃描探針顯微鏡 (Scanning Probe Microscopy)
主要技術指標：掃描范圍：10μm×10μm橫向分辨率：~5nm(電學測量模式為10~20nm)CAFM電流分辨率<5pA 功能/應用范圍：功能包括：AFM，EFM，CAFM，SKM，SCM等...
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