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X射線衍射分析（X-raydiffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。儀器技術參數小角衍射最小角可以達到0.4度，主要測量介...
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X射線光電子能譜（XPS），基于光電離作用，當一束光子輻射到樣品表面時，光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收，使該原子解脫原子核的束縛，以一定的動能從原子內部發射出來，變成...
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紫外光譜法，是測定物質分子在紫外光區吸收光譜的分析方法。紫外吸收光譜是物質吸收紫外光后，其價電子從低能級向高能級躍遷，產生吸收峰形成的。并非所有的有機物質在紫外光區都有吸收，只有那...
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IR原理紅外光譜IR,又稱傅立葉紅外光譜 FTIR,利用分子中的化學鍵或官能團可發生震動吸收，不同的化學鍵或官能團吸收頻率不同，在紅外光譜上將處于不同位置，從而可獲得分子中含有何...
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ICP原理測定每種化學元素的氣態原子或離子受激后所發射的特征光譜的波長及強度來確定物質中元素組成和含量。用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。...
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TEM原理透射電子顯微鏡（縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、...
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SEM原理高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射.儀器技術...
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SEM原理各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點來進行成分分析的。儀器技...
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掃描電鏡原理依據電子與物質的相互作用。樣品表面加一個強電場，樣品表面勢壘降低，由于隧道效應，樣品金屬內部的電子穿過勢壘從金屬表面發射出來，這種現象稱場發射。亮度高約比普通SEM高1...
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介電常數介質在外加電場時會產生感應電荷而削弱電場，在相同的原電場中某一介質中的電容率與真空中的電容率的比值即為相對介電常數(relativepermittivity)。介電損耗介電損耗是...
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阻抗 交流電路中一段無源電路兩端電壓峰值(或有效值)Um與通過該電路電流峰值(或有效值)Im之比稱為阻抗，用z表示，單位為歐姆(Ω)儀器技術參數頻率范圍 ：3～3GHZ&...
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表面電阻表面電阻是指材料表面上兩點間的直流電壓與通過的電流之比,單位:Ω(歐姆)。體積電阻1立方厘米電介質對泄漏電流的電阻。單位是歐姆·厘米儀器技術參數...
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比表面積相關測試：超微粉體顆粒的微觀特性不僅表現為表面形狀的不規則，很多存在孔結構。孔的大小、形狀及數量對比表面積測定結果有很大影響。測定微粉體的孔容積大小及孔徑分布規律成為粉...
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定義：粒度：顆粒的大小，通常球體顆粒的粒度用直徑表示。測試方法：激光粒度法，電子顯微鏡法性能參數：激光粒度法：1~1000um,精確度：±0.1um電子顯微鏡法:10nm~1000um，精確...
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定義：熱膨脹系數（Coefficientofthermalexpansion，簡稱CTE）是指物質在熱脹冷縮效應作用之下，幾何特性隨著溫度的變化而發生變化的規律性系數。線脹系數是指固態物質當溫度改變1攝氏...
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定義：比熱容，簡稱比熱(heatcapacity)，是單位質量物質的熱容量，即使單位質量物體改變單位溫度時的吸收或釋放的內能。常用單位J/(g?℃）計算公式：Cp=dQp/dTm測試方法：熱分析法...
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PY-GCMS測試_PY-GCMS檢測_裂解色譜質譜聯用_服務
原理裂解色譜是一種有效的分析技術，它能將不揮發的分子加熱分解成適合色譜分析的碎片。從而產生一種不揮發樣品的可重現特征指紋。這種技術可以應用在許多不同的領域，儀器技術參數...
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Maldi的原理是用激光照射樣品與基質形成的共結晶薄膜，基質從激光中吸收能量傳遞給樣品，使樣品電離的過程。 儀器技術參數線性模式飛行距離：1.5米，反射模式飛行距離：3米。...
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GPC,凝膠滲透色譜又稱為尺寸排阻色譜。基于體積排阻的分離機理，通過具有分子篩性質的固定相，用來分離相對分子質量較小的物質，并且還可以分析分子體積不同、具有相同化學性質的高分子同系物。...
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DMA原理樣品處于程序控制的溫度下，并施加單頻或多頻的振蕩力，測定其儲能模量、損耗模量和損耗因子隨溫度、時間與力的頻率的關系。儀器技術參數溫度范圍 ：-100～350℃溫...
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