? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?半導體特性測試儀

? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ST-DC2000_X 系列·半導體特性測試儀

?

? ? ? ?可測試 19大類27分類 的大中小功率的半導體分立器件及模塊的靜態直流參數，（測試范圍包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化鎵）材料的IGBTs?/?DIODEs?/?MOSFETs?/?BJTs?/?SCRs 等器件）高壓源2000V ，大電流源 50~1250A，分辨率最高至1mV / 10pA

? ? ? ?支持曲線掃描圖示功能，029-87309001/垂詢

?

• 產品介紹

? ? ? ?半導體特性測試儀是我公司研發生產的一款經典產品，擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

?

曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲線數據。此外， 針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。

?

? ? ? 支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更高級的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優點。

?

半導體特性測試儀提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

• 產品應用

應用領域

? ? ? ?軍工院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業鏈 ……

?

主要用途

• 測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試）
• 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案?）
• 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
• 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
• 量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）

?

• 技術規格

• 高壓源

范圍：±2.500mV~1000V（選配2000V）

分辨率：1mV

精度：1%+10mV

• 大電流源

范圍：標配±1nA~50A（選配100A / 250A / 500A 750A / 1000A / 1250A）

分辨率：1nA /10pA（10pA加微電流選件）?

精度：1%+10nA+20pA/V

• 控制極電壓

范圍：±2.500mV~20V（選配80V）

分辨率：1mV

精度：1%+5mV

• 控制極電流

范圍：±1nA~10A（選配40A）

分辨率：10nA

精度：10nA+20pA/V

• 測試效率：0.5mS/1個參數

?

• 產品特點

• 測試范圍廣（通測19大類，27分類半導體器件，覆蓋市面上常見的所有分立器件）
• 升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍
• 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300us
• 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試, 保證被測器件不受損壞
• 真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導?，其結果與器件實際值偏差很大）
• 系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排障
• 二極管極性自動判別功能，無需人工操作
• IV 曲線追蹤掃描及顯示?/ 局部放大
• 程序保護最大電流/電壓,以防損壞
• 具有品種繁多的IV曲線
• 可編程的數據點對應
• 增加線性或對數
• 可編程延遲時間可減少器件發熱
• 保存和重新導入入口程序
• 保存和導入之前捕獲圖象
• 曲線圖以及測試數據自動保存為EXCEL和TXT文本格式；
• 半導體特性測試儀支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

?

• 測試種類及參數

• IGBT

ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS

• MOSFET / MOS場效應管

IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS

• J-FET / J型場效應管

IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF

• 晶體管（NPN/PNP）

ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF

• DIODE / 二極管

IR；BVR ；VF

• ZENER / 穩壓、齊納二極管

IR；BVZ；VF；ZZ

• DIAC / 雙向觸發二極管

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

• OPTO-COUPLER / 光電耦合

ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)

• RELAY / 繼電器

RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME

• TRIAC / 雙向可控硅

VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-

• SCR / 可控硅

IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH

• STS / 硅觸發可控硅

IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-

• DARLINTON / 達林頓陣列

ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON

• REGULATOR / 三端穩壓器

Vout；Iin；

• OPTO-SWITCH / 光電開關

ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF

• OPTO-LOGIC / 光電邏輯

IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF

• MOV / 金屬氧化物壓變電阻

ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；

• SSOVP / 固態過壓保護器

ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ-

• VARISTOR / 壓變電阻

ID+； ID-；VC+ ；VC-

?

• 公司介紹

? ? ? ?西安天光測控技術有限公司029-87309001?是一家專業從事半導體功率器件測試設備 研發、生產、銷售的高新技術企業。產品有半導體分立器件測試篩選系統。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數及可靠性和老化測試。靜態單脈沖（包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數）動態雙脈沖（包括 Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環境老化測試（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）熱特性測試（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各類全系列測試設備。廣泛應用于半導體器件上游產業（設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板）和下游產業（院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業鏈）。

?

? ? ? ?公司團隊匯集了來自國內著名院校及電力電子行業的專家教授。擁有眾多國際領先的革命性創新技術和專利。產品成熟可靠，久經市場考驗，在替代進口產品方面有著突出的優勢。公司從產品到服務，從技術咨詢到現場支持，可覆蓋功率器件的初始研發到規模化生產的整個領域。

?

? ? ? ?展望未來，15596668116王生，公司將全力發揮自身技術優勢，為客戶提供全方位專家級的技術支持以及更多的經典產品。

半導體特性測試儀作為一款經典產品，歡迎各位來電垂詢。

? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 2020.04.29/葉

?

?

?

?

?

?

?

?

?

半導體特性測試儀

?

1、搜索相近關鍵詞：半導體特性測試，半導體特性曲線 ?半導體參數測試 ???半導體特性曲線測試

?

2、測試范圍： IGBT，MOSFET，二極管；三極管，可控硅，光耦，繼電器等19類器件；

3、用途：

?

?

?

?

?

半導體特性測試儀

ST-DC2000_X 系列·半導體特性測試儀

?

可以測試 19大類27分類 的大中小功率的半導體分立器件及模塊的靜態直流參數，（測試范圍包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化鎵）材料的IGBTs?/?DIODEs?/?MOSFETs?/?BJTs?/?SCRs 等器件）高壓源2000V ，大電流源 50~1250A，分辨率最高至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能，029-87309001/垂詢

?

?

?

• 產品介紹

半導體特性測試儀是我公司研發生產的一款經典產品，擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

?

曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲線數據。此外， 針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。

?

支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更高級的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優點。

?

半導體特性測試儀提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

?

?

?

• 產品應用

應用領域

軍工院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業鏈 ……

?

主要用途

• 測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試）
• 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案?）
• 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
• 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
• 量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）

?

• 技術規格

• 高壓源

范圍：±2.500mV~1000V（選配2000V）

分辨率：1mV

精度：1%+10mV

• 大電流源

范圍：標配±1nA~50A（選配100A / 250A / 500A 750A / 1000A / 1250A）

分辨率：1nA /10pA（10pA加微電流選件）?

精度：1%+10nA+20pA/V

• 控制極電壓

范圍：±2.500mV~20V（選配80V）

分辨率：1mV

精度：1%+5mV

• 控制極電流

范圍：±1nA~10A（選配40A）

分辨率：10nA

精度：10nA+20pA/V

• 測試效率：0.5mS/1個參數

?

• 產品特點

• 測試范圍廣（通測19大類，27分類半導體器件，覆蓋市面上常見的所有分立器件）
• 升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍
• 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300us
• 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試, 保證被測器件不受損壞
• 真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導?，其結果與器件實際值偏差很大）
• 系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排障
• 二極管極性自動判別功能，無需人工操作
• IV 曲線追蹤掃描及顯示?/ 局部放大
• 程序保護最大電流/電壓,以防損壞
• 具有品種繁多的IV曲線
• 可編程的數據點對應
• 增加線性或對數
• 可編程延遲時間可減少器件發熱
• 保存和重新導入入口程序
• 保存和導入之前捕獲圖象
• 曲線圖以及測試數據自動保存為EXCEL和TXT文本格式；
• 半導體特性測試儀支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

?

• 測試種類及參數

• IGBT

ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS

• MOSFET / MOS場效應管

IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS

• J-FET / J型場效應管

IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF

• 晶體管（NPN/PNP）

ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF

• DIODE / 二極管

IR；BVR ；VF

• ZENER / 穩壓、齊納二極管

IR；BVZ；VF；ZZ

• DIAC / 雙向觸發二極管

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

• OPTO-COUPLER / 光電耦合

ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)

• RELAY / 繼電器

RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME

• TRIAC / 雙向可控硅

VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-

• SCR / 可控硅

IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH

• STS / 硅觸發可控硅

IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-

• DARLINTON / 達林頓陣列

ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON

• REGULATOR / 三端穩壓器

Vout；Iin；

• OPTO-SWITCH / 光電開關

ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF

• OPTO-LOGIC / 光電邏輯

IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF

• MOV / 金屬氧化物壓變電阻

ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；

• SSOVP / 固態過壓保護器

ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ-

• VARISTOR / 壓變電阻

ID+； ID-；VC+ ；VC-

?

• 公司介紹

西安天光測控技術有限公司029-87309001?是一家專業從事半導體功率器件測試設備 研發、生產、銷售的高新技術企業。產品有半導體分立器件測試篩選系統。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數及可靠性和老化測試。靜態單脈沖（包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數）動態雙脈沖（包括 Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環境老化測試（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）熱特性測試（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各類全系列測試設備。廣泛應用于半導體器件上游產業（設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板）和下游產業（院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業鏈）。

?

公司團隊匯集了來自國內著名院校及電力電子行業的專家教授。擁有眾多國際領先的革命性創新技術和專利。產品成熟可靠，久經市場考驗，在替代進口產品方面有著突出的優勢。公司從產品到服務，從技術咨詢到現場支持，可覆蓋功率器件的初始研發到規模化生產的整個領域。

?

展望未來，15596668116王生，公司將全力發揮自身技術優勢，為客戶提供全方位專家級的技術支持以及更多的經典產品。

半導體特性測試儀作為一款經典產品，歡迎各位來電垂詢；

2020.04.29/葉

?

?

?

?

半導體特性測試儀

?

1、搜索相近關鍵詞：半導體特性測試，半導體特性曲線 ?半導體參數測試 ???半導體特性曲線測試

?

2、測試范圍： IGBT，MOSFET，二極管；三極管，可控硅，光耦，繼電器等19類器件；

3、用途：

?

?

?

?

?

半導體特性測試儀

ST-DC2000_X 系列·半導體特性測試儀

?

可以測試 19大類27分類 的大中小功率的半導體分立器件及模塊的靜態直流參數，（測試范圍包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化鎵）材料的IGBTs?/?DIODEs?/?MOSFETs?/?BJTs?/?SCRs 等器件）高壓源2000V ，大電流源 50~1250A，分辨率最高至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能，029-87309001/垂詢

?

?

?

• 產品介紹

半導體特性測試儀是我公司研發生產的一款經典產品，擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

?

曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲線數據。此外， 針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。

?

支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更高級的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優點。

?

半導體特性測試儀提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

?

?

?

• 產品應用

應用領域

軍工院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業鏈 ……

?

主要用途

• 測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試）
• 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案?）
• 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
• 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
• 量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）

?

• 技術規格

• 高壓源

范圍：±2.500mV~1000V（選配2000V）

分辨率：1mV

精度：1%+10mV

• 大電流源

范圍：標配±1nA~50A（選配100A / 250A / 500A 750A / 1000A / 1250A）

分辨率：1nA /10pA（10pA加微電流選件）?

精度：1%+10nA+20pA/V

• 控制極電壓

范圍：±2.500mV~20V（選配80V）

分辨率：1mV

精度：1%+5mV

• 控制極電流

范圍：±1nA~10A（選配40A）

分辨率：10nA

精度：10nA+20pA/V

• 測試效率：0.5mS/1個參數

?

• 產品特點

• 測試范圍廣（通測19大類，27分類半導體器件，覆蓋市面上常見的所有分立器件）
• 升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍
• 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300us
• 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試, 保證被測器件不受損壞
• 真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導?，其結果與器件實際值偏差很大）
• 系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排障
• 二極管極性自動判別功能，無需人工操作
• IV 曲線追蹤掃描及顯示?/ 局部放大
• 程序保護最大電流/電壓,以防損壞
• 具有品種繁多的IV曲線
• 可編程的數據點對應
• 增加線性或對數
• 可編程延遲時間可減少器件發熱
• 保存和重新導入入口程序
• 保存和導入之前捕獲圖象
• 曲線圖以及測試數據自動保存為EXCEL和TXT文本格式；
• 半導體特性測試儀支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

?

• 測試種類及參數

• IGBT

ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS

• MOSFET / MOS場效應管

IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS

• J-FET / J型場效應管

IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF

• 晶體管（NPN/PNP）

ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF

• DIODE / 二極管

IR；BVR ；VF

• ZENER / 穩壓、齊納二極管

IR；BVZ；VF；ZZ

• DIAC / 雙向觸發二極管

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

• OPTO-COUPLER / 光電耦合

ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)

• RELAY / 繼電器

RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME

• TRIAC / 雙向可控硅

VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-

• SCR / 可控硅

IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH

• STS / 硅觸發可控硅

IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-

• DARLINTON / 達林頓陣列

ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON

• REGULATOR / 三端穩壓器

Vout；Iin；

• OPTO-SWITCH / 光電開關

ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF

• OPTO-LOGIC / 光電邏輯

IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF

• MOV / 金屬氧化物壓變電阻

ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；

• SSOVP / 固態過壓保護器

ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ-

• VARISTOR / 壓變電阻

ID+； ID-；VC+ ；VC-

?

• 公司介紹

西安天光測控技術有限公司029-87309001?是一家專業從事半導體功率器件測試設備 研發、生產、銷售的高新技術企業。產品有半導體分立器件測試篩選系統。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數及可靠性和老化測試。靜態單脈沖（包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數）動態雙脈沖（包括 Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環境老化測試（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）熱特性測試（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各類全系列測試設備。廣泛應用于半導體器件上游產業（設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板）和下游產業（院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業鏈）。

?

公司團隊匯集了來自國內著名院校及電力電子行業的專家教授。擁有眾多國際領先的革命性創新技術和專利。產品成熟可靠，久經市場考驗，在替代進口產品方面有著突出的優勢。公司從產品到服務，從技術咨詢到現場支持，可覆蓋功率器件的初始研發到規模化生產的整個領域。

?

展望未來，15596668116王生，公司將全力發揮自身技術優勢，為客戶提供全方位專家級的技術支持以及更多的經典產品。

半導體特性測試儀作為一款經典產品，歡迎各位來電垂詢；

2020.04.29/葉

?

?

?

?

?

半導體特性測試儀

?

1、搜索相近關鍵詞：半導體特性測試，半導體特性曲線 ?半導體參數測試 ???半導體特性曲線測試

?

2、測試范圍： IGBT，MOSFET，二極管；三極管，可控硅，光耦，繼電器等19類器件；

3、用途：

?

?

?

?

?

半導體特性測試儀

ST-DC2000_X 系列·半導體特性測試儀

?

可以測試 19大類27分類 的大中小功率的半導體分立器件及模塊的靜態直流參數，（測試范圍包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化鎵）材料的IGBTs?/?DIODEs?/?MOSFETs?/?BJTs?/?SCRs 等器件）高壓源2000V ，大電流源 50~1250A，分辨率最高至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能，029-87309001/垂詢

?

?

?

• 產品介紹

半導體特性測試儀是我公司研發生產的一款經典產品，擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

?

曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲線數據。此外， 針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。

?

支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更高級的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優點。

?

半導體特性測試儀提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

?

?

?

• 產品應用

應用領域

軍工院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業鏈 ……

?

主要用途

• 測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試）
• 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案?）
• 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
• 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
• 量產測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）

?

• 技術規格

• 高壓源

范圍：±2.500mV~1000V（選配2000V）

分辨率：1mV

精度：1%+10mV

• 大電流源

范圍：標配±1nA~50A（選配100A / 250A / 500A 750A / 1000A / 1250A）

分辨率：1nA /10pA（10pA加微電流選件）?

精度：1%+10nA+20pA/V

• 控制極電壓

范圍：±2.500mV~20V（選配80V）

分辨率：1mV

精度：1%+5mV

• 控制極電流

范圍：±1nA~10A（選配40A）

分辨率：10nA

精度：10nA+20pA/V

• 測試效率：0.5mS/1個參數

?

• 產品特點

• 測試范圍廣（通測19大類，27分類半導體器件，覆蓋市面上常見的所有分立器件）
• 升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍
• 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300us
• 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試, 保證被測器件不受損壞
• 真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導?，其結果與器件實際值偏差很大）
• 系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排障
• 二極管極性自動判別功能，無需人工操作
• IV 曲線追蹤掃描及顯示?/ 局部放大
• 程序保護最大電流/電壓,以防損壞
• 具有品種繁多的IV曲線
• 可編程的數據點對應
• 增加線性或對數
• 可編程延遲時間可減少器件發熱
• 保存和重新導入入口程序
• 保存和導入之前捕獲圖象
• 曲線圖以及測試數據自動保存為EXCEL和TXT文本格式；
• 半導體特性測試儀支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

?

• 測試種類及參數

• IGBT

ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS

• MOSFET / MOS場效應管

IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS

• J-FET / J型場效應管

IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF

• 晶體管（NPN/PNP）

ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF

• DIODE / 二極管

IR；BVR ；VF

• ZENER / 穩壓、齊納二極管

IR；BVZ；VF；ZZ

• DIAC / 雙向觸發二極管

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

• OPTO-COUPLER / 光電耦合

ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)

• RELAY / 繼電器

RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME

• TRIAC / 雙向可控硅

VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-

• SCR / 可控硅

IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH

• STS / 硅觸發可控硅

IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-

• DARLINTON / 達林頓陣列

ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON

• REGULATOR / 三端穩壓器

Vout；Iin；

• OPTO-SWITCH / 光電開關

ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF

• OPTO-LOGIC / 光電邏輯

IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF

• MOV / 金屬氧化物壓變電阻

ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；

• SSOVP / 固態過壓保護器

ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ-

• VARISTOR / 壓變電阻

ID+； ID-；VC+ ；VC-

?

• 公司介紹

西安天光測控技術有限公司029-87309001?是一家專業從事半導體功率器件測試設備 研發、生產、銷售的高新技術企業。產品有半導體分立器件測試篩選系統。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數及可靠性和老化測試。靜態單脈沖（包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數）動態雙脈沖（包括 Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環境老化測試（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）熱特性測試（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各類全系列測試設備。廣泛應用于半導體器件上游產業（設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板）和下游產業（院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業鏈）。

?

公司團隊匯集了來自國內著名院校及電力電子行業的專家教授。擁有眾多國際領先的革命性創新技術和專利。產品成熟可靠，久經市場考驗，在替代進口產品方面有著突出的優勢。公司從產品到服務，從技術咨詢到現場支持，可覆蓋功率器件的初始研發到規模化生產的整個領域。

?

展望未來，15596668116王生，公司將全力發揮自身技術優勢，為客戶提供全方位專家級的技術支持以及更多的經典產品。

半導體特性測試儀作為一款經典產品，歡迎各位來電垂詢；

2020.04.29/葉

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?

?