二次離子質(zhì)譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術(shù)。它可以分析氫元素到鈾元素在內(nèi)的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團(tuán)和分子結(jié)構(gòu)等信息。SIMS可以分為靜態(tài)SIMS（SSIMS）和動態(tài)SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質(zhì)譜圖、化學(xué)成像、動態(tài)深度剖析曲線等。原理是利用具有一定能量的初級離子束轟擊固體材料表面，再利用質(zhì)譜分析檢測被初級離子束濺射出的二次離子的質(zhì)荷比，從而得到樣品信息。如今應(yīng)用在SIMS中廣泛的質(zhì)譜檢測器是飛行時間質(zhì)譜儀（TOF），TOF-SIMS的分辨率可以達(dá)到104，微區(qū)分辨率達(dá)到100nm2，深度分辨率達(dá)到1nm，二次離子濃度靈敏度達(dá)到ppm級別。微源檢測可以提供德國ION-TOF先進(jìn)TOF-SIMS儀器檢測，為客戶提供完善的SIMS技術(shù)解決方案。各種優(yōu)異的性能和特點(diǎn)SIMS技術(shù)被廣泛地用于半導(dǎo)體行業(yè)，半導(dǎo)體硅晶片制程的越來越小，SIMS逐漸成為分析半導(dǎo)體器件表面沾污缺陷、研究元素?fù)诫s等的手段。除此之外，SIMS的應(yīng)用近年來也不斷發(fā)展到生物醫(yī)藥、材料、化學(xué)等領(lǐng)域。

其中在生物醫(yī)藥領(lǐng)域，利用TOF-SIMS技術(shù)對生物細(xì)胞進(jìn)行化學(xué)成像分析受到越來越多的研究人員關(guān)注，例如使用TOF-SIMS研究生物組織或生物薄膜上蛋白質(zhì)等分子行為、細(xì)胞界面特性、藥物作用、疾病診斷等。和MALDI-TOF-MS、ESI-MS等質(zhì)譜相比，TOF-SIMS的靈敏度更高且可以進(jìn)行二維或三維化學(xué)成像。下圖為分別使用SSIMS和DSIMS對冠狀動脈支架中的藥物進(jìn)行分析的案例。其中的質(zhì)譜圖就是通過SSIMS得到樣品表面化學(xué)信息，下方的化學(xué)成像則是通過DSIMS層層剝離，得到的不同深度下的藥物分布圖。

檢測流程：
1、溝通需求：了解樣品檢測項目，確定檢測范圍；

2、簽訂合同：根據(jù)檢測項目及檢測需求報價并簽訂合同及保密協(xié)議；

3、寄送樣品：寄送樣品至實驗室；

4、樣品檢測：實驗室進(jìn)行檢測流程，具體可咨詢專屬檢測顧問；

5、寄送報告：出具檢測報告，并進(jìn)行后期服務(wù)

實驗室儀器：

服務(wù)優(yōu)勢：
杭州微源檢測技術(shù)有限公司是科創(chuàng)板上市公司泰坦科技股票代碼：688133）注資成立的一家獨(dú)立第三方生物醫(yī)藥研發(fā)測試服務(wù)公司，遵照ISO17025和GMP進(jìn)行實驗室管理，通過CMA和CNAS雙認(rèn)證，可謂醫(yī)藥行業(yè)提供產(chǎn)品研發(fā)測試，元素雜質(zhì)檢測，基因毒性雜質(zhì)研究，結(jié)構(gòu)確證，生物藥工藝殘留物檢測等系列服務(wù)，專注為藥物生產(chǎn)過程中可能產(chǎn)生的各類殘留物和雜質(zhì)提供檢測服務(wù)、方法學(xué)開發(fā)、方法學(xué)驗證及評估報告等一系列完整解決方案并提供相應(yīng)分析測試報告。